Американские ученые усовершенствовали «суперлинзу»

Американские исследователи заявили о разработке новой «суперлинзы», способной различать наноскопические детали на расстояниях значительно превышающих размеры изучаемых объектов. Первая суперлинза была построена в 2005 году командой ученых из Калифорнийского университета Беркли под руководством Ксианг Жанга (Xiang Zhang), которая смогла преодолеть ограничивающий дифракционный диапазон микроскопов, работающих на обычной световой оптике. С помощью тонкой серебряной фольги и ультрафиолетового света исследователи смогли различить два наноскопических объекта на расстоянии 60 нм друг от друга.

Основным недостатком предложенной оптической системы являлось то, что исследуемые предметы должны были располагаться в непосредственной и от линзы, на расстоянии в 35-нм, в так называемом «ближнем поле», чьи невидимые обычной оптикой волны и улавливал сенсор, расположенный в непосредственной и от линзы.

И вот на днях, упомянутая группа ученых выступила с заявлением, что, покрыв серебряную поверхность 35-нм дифракционным слоем, им удалось построить конвертер, превращающий волны «ближнего поля» в обычные световые, которые не затухают на сверхкоротких дистанциях. Это достижение означает, что хотя сама линза с сенсором, по-прежнему, должна располагаться в «ближнем поле» изучаемого объекта, световой микроскоп может находиться на приличном расстоянии от объекта исследования, облегчая построение крупным исследовательских приборов.

В проведенных испытаниях, исследователи смогли различить, нанотрубки расположенные на расстоянии 70-нм друг от друга, что практически в 3 раза превышает предел самых сильных световых микроскопов.

3DNews