• Главная
  • ЛЕНТА НОВОСТЕЙ
  • АРХИВ НОВОСТЕЙ
  • Политическая жизнь Армении
  • Украинско-армянские отношения
  • Культура и искусство Армении
  • RSS feed
  • 32-нм - не предел для оптической литографии
    Опубликовано: 2006-02-22 15:10:00

    Любая технология, в данном случае оптическая литография, когда-нибудь устареет, и доработки вкупе с модернизацией лишь отсрочивают этот неизбежный финал. Для производства полупроводниковых микросхем уже установлен технологический барьер, но инженерам компании IBM удалось создать самые миниатюрные структуры шириной 29,9-нм с помощью 193-нм оптической литографии. О своем достижении IBM заявила на прошедшей в понедельник конференции SPIE Microlithography 2006, где также было отмечено превосходство новых структур над теми, что производятся сейчас.

    Благодаря применению оптических сканеров с источником излучения глубокой ультрафиолетовой части спектра (Deep-UV) размер структур втрое меньше тех, что используются в современной полупроводниковой 90-нм промышленности и, соответственно, меньше, чем тот самый технологический барьер (32-нм). Разумеется, на конференции была представлена и сама экспериментальная литографическая установка, которой дали оригинальное и подходящее название NEMO.

    Инф. 3DNews

     

     

    Внимание!!! При перепечатке авторских материалов с ArmEmbassy.com.ua активная ссылка (не закрытая в теги noindex или nofollow, а именно открытая!!!) на портал "Армянские новости в Украине ArmEmbassy.com.ua" обязательна.

    САМОЕ ЧИТАЕМОЕ

    22 июл, 23:27

    30 окт, 22:04

    25 сен, 21:14

    04 сен, 18:29

    01 сен, 18:33

    24 авг, 10:35

    Армянские новости в Украине
    Электронная почта проекта: info@armembassy.com.ua

    Официальный сайт Посольства Армении в Украине находится по другому адресу
    bigmir)net TOP 100

    Яндекс цитирования
    Яндекс.Метрика
    © Армянские новости в Украине. Все права защищены.
    При использовании материалов сайта в печатном или электронном виде активная ссылка на ArmEmbassy.com.ua обязательна. Мнение редакции может не совпадать с мнением автора.